低溫試驗(yàn)箱適用于非散熱和散熱兩類(lèi)進(jìn)行試驗(yàn)研究樣品。氙燈老化試驗(yàn)箱采用能模擬全陽(yáng)光光譜的氙燈燈來(lái)再現(xiàn)不同環(huán)境下存在的破壞性光波，可以為科研、產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和質(zhì)量控制提供相應(yīng)的環(huán)境模擬和加速試驗(yàn)。高低溫試驗(yàn)箱環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備里面最常見(jiàn)的溫度試驗(yàn)設(shè)備，與其類(lèi)似的相關(guān)產(chǎn)品有高低溫交變?cè)囼?yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱、高低溫濕熱交變?cè)囼?yàn)箱等等。適用于工業(yè)產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗(yàn)。步入式高低溫試驗(yàn)室步入式高低溫試驗(yàn)室應(yīng)用于國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、自動(dòng)化零組件汽車(chē)部件、電子電器件、塑膠、化工、制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品之耐熱、耐寒測(cè)試，為產(chǎn)業(yè)界提供大型零件，半成品，成品之大型溫濕度測(cè)試環(huán)境空間，適合于測(cè)試產(chǎn)品量多、體積大之試驗(yàn)設(shè)備?？己撕痛_定電工、電子技術(shù)產(chǎn)品在低溫工作環(huán)境經(jīng)濟(jì)條件下可以貯存和使用的適應(yīng)性。

低溫試驗(yàn)方法分為以下三類(lèi)

非冷卻測(cè)試樣品的低溫測(cè)試： - 測(cè)試 AA： 溫度突變

--試驗(yàn)Ab：溫度進(jìn)行漸變

散熱試樣低溫試驗(yàn): -- 試驗(yàn)廣告: 溫度梯度

低溫試驗(yàn)方法通常用于在條件試驗(yàn)中能夠達(dá)到溫度穩(wěn)定性的試樣。試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間從試樣溫度達(dá)到穩(wěn)定的時(shí)間開(kāi)始計(jì)算。在特殊情況下，如果在條件試驗(yàn)過(guò)程中沒(méi)有達(dá)到試樣的溫度穩(wěn)定性，試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間應(yīng)從試驗(yàn)箱達(dá)到規(guī)定的試驗(yàn)溫度時(shí)開(kāi)始計(jì)算。

相關(guān)規(guī)范應(yīng)規(guī)定：

a）試驗(yàn)箱內(nèi)溫度環(huán)境變化發(fā)展速率；

B)將測(cè)試樣品放入測(cè)試室的時(shí)間

c） 在測(cè)試條件下暴露測(cè)試樣本的時(shí)間：

D)測(cè)試樣品通電或加載的時(shí)間。

在這些條件下，相關(guān)規(guī)格的起草人可以根據(jù) gb/t 2424.1-1989指南選擇上述四個(gè)參數(shù)(在這些條件下正在考慮修訂)